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日本精工 |
X射线荧光镀层厚度测量仪
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A1532026 |
射线源空冷式小型X射线管准直器2种类型0.1、0.2mmφ计算机CPU(AT互换电脑)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®过滤装置数字过滤装置样品平台台面尺… |
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中国 |
一体式涂层测厚仪
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A1501028 |
测量范围:0~1250um(标准量程)其它量程可定制分辨率:0.1/1最小曲率半径:凸5mm/凹5mm最小测量面积:10x10mm最薄基底:0.4mm使用环境:温度:0~40℃… |
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1883 |
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中国 |
涂层测厚仪
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A1501029 |
测量范围:0~1250um(标准量程)其它量程可定制分辨率:0.1/1最小曲率半径:凸5mm/凹5mm最小测量面积:10x10mm最薄基底:0.4mm使用环境:温度:0~40℃… |
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2072 |
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中国 |
覆层测厚仪
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A1532111 |
基本功能量程基本精度铁基体测量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)铝基体测量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)分辨率1μ… |
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中国 |
覆层测厚仪
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A1532112 |
基本功能量程基本精度铁基体测量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)分辨率1μm√特殊功能最大显示9999自动关机√低电压显示√数字保持… |
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德国EPK |
涂层测厚仪
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A1531559 |
型号特性主机探头类型内置数据记忆组数10存储数据量最多10,000个统计值读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设… |
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13025 |
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中国 |
涂层测厚仪
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A1532226 |
F1N1工作原理磁感应电涡流测量范围0~1250μm0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)±(3%H+1.5)二点校准±[(1~3%)H+1]±[(1~3… |
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3850 |
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德国EPK |
涂层测厚仪
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A1531567 |
型号特性主机探头类型外置数据记忆组数10存储数据量最多10,000个统计值读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设… |
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14320 |
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中国 |
涂层测厚仪
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AL1532279 |
采用了磁性和涡流两种测厚方法测量范围:(0~1250)μm低限分辨率:1μm测量精度:±(3%H+1)μm,H为被测涂层厚度显示方法:高对比度的LCD液晶… |
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3000 |
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德国EPK |
涂层测厚仪
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A1531575 |
型号特性主机探头类型内置外置可换数据记忆组数100存储数据量最多100,000个统计值读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计… |
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17222 |
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德国EPK |
口袋式涂层测厚仪
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AL1532294 |
AL1532294AL1532295量程0-3mm/120milsF:0-3mm/120mils/N:0-2.5mm/100mils原理磁性磁性/涡流信号处理内置32位数字处理进程(SIDSP)精确度一点校准… |
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10710 |
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中国 |
涂层测厚仪
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AL1532425 |
采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;… |
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7000 |
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中国 |
涂层测厚仪
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A1532168 |
测头类型A1532168A1532169A1532168测头类型F1N1F1或N1工作原理磁感应电涡流磁感应或电涡流测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±… |
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2000 |
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中国 |
红外测温仪
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AL807717 |
AL807717AL807718测温范围-20~700℃400~1800℃测量精度±1%或±1℃取最大重复精度±0.5%或±0.5℃光学分辨率40:1(95%的能量)50:1发射率可调显… |
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3360 |