厂商名称 | 产品名称 | 产品订货号 | 货期(周) | 产品价格 |
---|---|---|---|---|
德国EPK | 涂层测厚仪 | A1531575 | 洽询 | 17222 |
型号特性 |
主机 |
探头类型 |
内置外置可换 |
数据记忆组数 |
100 |
存储数据量 |
最多100,000个 |
统计值 |
读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) |
校准程序符合国际标准和规范 |
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 |
校准模式 |
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 |
极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
测量单位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
操作温度 |
-10℃-60℃ |
存放温度 |
-20℃-70℃ |
数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
电源 |
2节AA电池 |
标准 |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
体积 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
重量 |
约175g(内置)/230g(外置) |
探头货号 |
A1531583 |
A1531584 |
A1531585 |
A1531586 |
A1531587 |
A1531588 |
A1531589 |
A1531590 | ||
探头特性 |
F1.5 |
N0.7 |
N1.5 |
F2 |
F5 |
N2.5 |
FN5 |
F15 | ||
F |
N |
F |
F |
N |
F | |||||
测量范围 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm | ||||
使用范围 |
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 |
标准探头,使用广泛 |
厚涂层 | ||||||
测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 | ||||
信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||||||
精确度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) | |||||||
重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) | |||||||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm | |||||||
最小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm | |||||||
最小曲率半径(凹,外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm | |||||||
最小曲率半径(凹,内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm | |||||||
最小测量面积 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm | |||||||
最小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm | ||||
连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 | |||||||||
单值模式下最大测量速度 |
每分钟70个读数 |
产品订货号 | 产品介绍 | 符合标准 | 最小订量 | 价格 | 货期 | 备注 |
A1531575 | 涂层测厚仪:只含主机;探头类型:内置外置可换;数据记忆组数:100;存储数据量:最多100,000个;统计值:读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置);校准程序符合国际标准和规范:ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准;校准模式:出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值;极限值监控:声、光报警提示超过极限;测量单位:um,mm,cm;mils,inch,thou;操作温度:-10℃-60℃;存放温度:-20℃-70℃;数据接口:IrDA 1.0(红外接口);电源:2节AA电池;标准:DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840;ASTM B244,B499,D7091,E376;AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2;体积:157mm x 75.5mm x 49mm;重量:约175g(内置)/230g(外置);品牌:德国EPK | 1 | 17222 | 洽询 | 备注 | |
A1531583 | F1.5探头:探头特性:F;测量范围:0-1.5mm;使用范围:小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用;测量原理:磁感应;信号处理: 探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度: ±(1μm+0.75%读值);重复性: ±(0.5μm+0.5%读值);低端分辨率: 0.05μm;最小曲率半径(凸): 1.0mm;最小曲率半径(凹,外置探头): 7.5mm;最小曲率半径(凹,内置探头): 30mm;最小测量面积: Φ5mm;最小基体厚度: 0.3mm;连续模式下测量速度: 每秒20个读数;单值模式下最大测量速度: 每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 11520 | 洽询 | 备注 | |
A1531584 | N 07探头:探头特性:N;测量范围:0-0.7mm;使用范围:小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用;测量原理:电涡流;信号处理: 探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度: ±(1μm+0.75%读值);重复性: ±(0.5μm+0.5%读值);低端分辨率: 0.05μm;最小曲率半径(凸): 1.0mm;最小曲率半径(凹,外置探头): 7.5mm;最小曲率半径(凹,内置探头): 30mm;最小测量面积: Φ5mm;最小基体厚度:40μm;连续模式下测量速度: 每秒20个读数;单值模式下最大测量速度: 每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 11867 | 洽询 | 备注 | |
A1531585 | FN 1.5探头:探头特性:F1.5N0.7N1.5;FN;测量范围:0-1.5mm0-0.7mm;使用范围:小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用;测量原理:磁感应电涡流;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(1μm+0.75%读值);重复性:±(0.5μm+0.5%读值);低端分辨率:0.05μm;最小曲率半径(凸):1.0mm;最小曲率半径(凹,外置探头):7.5mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ5mm;最小基体厚度:0.3mm40μm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 15920 | 洽询 | 备注 | |
A1531586 | F2探头:探头特性:F2;测量范围:0-2mm;使用范围:粗糙表面;测量原理:磁感应;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(1.5μm+0.75%读值);重复性:±(0.8μm+0.5%读值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半径(凸):1.5mm;最小曲率半径(凹,外置探头):10mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ10mm;最小基体厚度:0.5mm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 8538 | 洽询 | 备注 | |
A1531587 | F5探头:探头特性:F5;测量范围:0-5mm;使用范围:标准探头,使用广泛;测量原理:磁感应;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(1.5μm+0.75%读值);重复性:±(0.8μm+0.5%读值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半径(凸):1.5mm;最小曲率半径(凹,外置探头):10mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ10mm;最小基体厚度:0.5mm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 7319 | 洽询 | 备注 | |
A1531588 | N2.5探头:探头特性:N2.5;测量范围:0-2.5mm;使用范围:标准探头,使用广泛;测量原理:电涡流;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(1.5μm+0.75%读值);重复性:±(0.8μm+0.5%读值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半径(凸):1.5mm;最小曲率半径(凹,外置探头):10mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ10mm;最小基体厚度:40μm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数 | 10131 | 洽询 | 备注 | ||
A1531589 | FN5探头:探头特性: FN5;测量范围: 0-2.5mm;使用范围: 标准探头,使用广泛;测量原理: 电涡流;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(1.5μm+0.75%读值);重复性:±(0.8μm+0.5%读值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半径(凸):1.5mm;最小曲率半径(凹,外置探头):10mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ10mm;最小基体厚度:40μm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 14183 | 洽询 | 备注 | |
A1531590 | F15探头:探头特性:F15;测量范围:0-15mm;使用范围:厚涂层;测量原理:磁感应;信号处理:探头内部32位信号处理(SIDSP);精确度:±(5μm+0.75%读值);重复性:±(2.5μm+0.5%读值);低端分辨率:1μm;最小曲率半径(凸):5mm;最小曲率半径(凹,外置探头):25mm;最小曲率半径(凹,内置探头):30mm;最小测量面积:Φ25mm;最小基体厚度:1mm;连续模式下测量速度:每秒20个读数;单值模式下最大测量速度:每分钟70个读数;品牌:德国EPK | 1 | 11520 | 洽询 | 备注 | |
AL1532290 | 探头支架;品牌:德国EPK | 1 | 25600 | 洽询 | 备注 | |
AL1532291 | 探头架适配器:(适用于探头F 1.5/ FN 1.5/ N 07);品牌:德国EPK | 1 | 洽询 | 洽询 | 备注 | |
AL1532292 | USB红外适配器;品牌:德国EPK | 1 | 1157 | 洽询 | 备注 | |
AL1532293 | MSOFT41软件:(德语/英语/法语/西班牙语,用于传输数据和统计评估的USB);品牌:德国EPK | 1 | 3560 | 洽询 | 备注 |