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德国FISCHER 双功能涂镀层测厚仪 A1531890 技术参数A1531890A1531891钢或铁上的非铁金属镀层可以可以钢和铁上的油漆、瓷漆或塑料涂层可以可以非铁金属上的油漆、阳极氧化层、瓷漆或塑料涂层… 洽询 46666
德国FISCHER 涂镀层测厚仪 A1531892 仪器平台应用软基基于MSWindowsCE显示器明亮图形显示器（彩色、触摸屏）键盘/操作4个薄膜开关，软键盘，最多12个软键探头连接器10针插座通讯界面U… 洽询 39465
德国FISCHER 台式镀层测厚仪 A1531899 主机型号:BASEUNITMMS3AM（台式）（A1531899）模块型号:PERMASCOPEMMSPLUG-INMODULE，A1531900NICKELSCOPEMMSPLUG-INMODULE，A1531901SIGASCOPEMM… 洽询 51410
德国FISCHER 线路板综合测试仪 A1531910 显示：采用126x70mm（5.0”x2.75”）带背光的高清晰度液晶点阵显示，可显示各种数据和图形。数据储存：仪器可储存20，000个数据，可设置50个应用程… 洽询 71115
中国 测厚仪 A1535159 探头A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200测量… 洽询 5800
中国 测厚仪 A1535158 探头A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200测量… 洽询 7800.00
中国 涂层测厚仪 A1531976 采用磁性和涡流两种测厚方法，配F型测头可无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、合金和硬磁性钢上的锌、铝、铬、铜、橡胶、… 洽询 11850
中国 高精度覆层测厚仪 A1535149 探头A1535150A1535151A1535152A1535153A1535154A1535155A1535156测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200测量… 洽询 洽询
德国尼克斯 涂层测厚仪 A1501013 型号A1501013A1501014基体FeFe/NFe探头形式一体显示LCD数字显示测量范围0－3000μmFe:0-3000μmNFe：0－3000μm测量精度0－50μm：≤±1μm，50－… 洽询 6900
中国 测厚仪 A1535160 探头A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200测量… 洽询 洽询
德国EPK 磁性图层测厚仪 A1501015 1.测量范围:0-100um0-1000um2.被测物的基体材料:普通碳素钢3.涂层材料:非磁性金属材料和油漆,搪瓷,塑料等. 洽询 6500
德国尼克斯 涂层测厚仪 A1501026 ■测量精度：0－2000μm：≤±2％；2000－5000μm：≤±3％■最小基体：Fe：20mm×20mm；NFe：20mm×20mm■最薄基体：Fe：0.2mm；NFe：0.05mm■最… 洽询 洽询
德国Qnix 涂层测厚仪 A1530732 技术参数磁性基体Fe探头（A1530732/A1530733）非磁性基体NFe探头（A153073）测量范围A1530732:0-2000umA1530733:0-5000um精度0-50um:≤±1um50-10… 洽询 7500
德国Qnix 涂层测厚仪 A1530734 基体Fe、NFe、NFe\NFe探头形式一体、分体显示LCD液晶显示测量范围0－2000μm0－5000μm测量精度0－2000μm：≤±2％2000－5000μm：≤±3％最小基… 洽询 7475
德国QNIX 金属涂层测厚仪 A1532016 基体Fe/NFe探头形式无线分体显示LCD数字显示测量范围0－5000μm测量精度0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，200… 洽询 17075
日本精工 X射线荧光镀层厚度测量仪 A1532021 检测器比例计数管X射线源空冷式小型X射线管准直器0.1、0.2mmφ2种样品观察CCD摄像头样品台移动量250（X）×200（Y）mm样品最大高度150mm 洽询 洽询
日本精工 X射线荧光镀层厚度测量仪 A1532022 可测量元素原子序数13(Al)～83(Bi)X射线聚光聚光方式X射线源管电压50kV管电流1mA检测器Vortex®检测器(无需液氮)分析范围Φ0.1mm、Φ5mm样品观… 洽询 洽询
日本精工 X射线荧光镀层厚度测量仪 A1532023 测定元素原子序号22（Ti）~83（Bi）X射线管管电压：50kV管电流：1.5mA检测器半导体检测器+比例计数管准直器4种（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）样品… 洽询 洽询
日本精工 X射线荧光镀层厚度测量仪 A1532024 射线源空冷式小型X射线管准直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ样品表示倍率（CRT上）最大4倍可变焦距样品平台移动量：220（… 洽询 洽询
日本精工 X射线荧光镀层厚度测量仪 A1532025 射线源空冷式小型X射线管准直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ样品观察CCD照相机过滤器Co:自动切换样品平台移动量:220（X）x150… 洽询 洽询