高精度覆层测厚仪-价格|测厚仪|测厚仪表|超声波测厚仪-上海艾测电子科技有限公司

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产品目录

厂商名称	产品名称	产品订货号	货期（周）	产品价格
中国	高精度覆层测厚仪	A1535149	洽询	洽询

产品特点

在国内同类产品中，测量精度最高（A级），速度最快，稳定性最好。且操作方便，外形美观。主要测量金属表面涂、镀层

的厚度。

本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于

工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。它是无损检测行业的必备仪器。

功能特点

两种工作方式：直接方式和成组方式转换

两种测量方式：单次测量和连续测量（大面积内快速获取读数）转换公、英制转换

开机后显示最后一个读数

背景照明（可选择）

声音提示数据已读取

可设置数据的测量范围，声音提示数据超出允许的测量范围

具有测量数据存储功能

具有测量数据的统计计算功能

具有测量数据的删除功能（删除当前测量值，删除当前组测量数据，删除当前组所有数据）

可存储295个数据

全中文菜单

多种校准方式

具有手动和自动关机功能

LT200-1N标配N1探头

标准配置：主机、探头（N1）、基体、试块、5试片（50µm、100µm、200µm、500、1000µm）、9V碱性电池

技术指标

探头

A1535150

A1535151

A1535152

A1535153

A1535154

A1535155

A1535156

测量原理

磁性

涡流

测量范围（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

测量精度μm

一点校准

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二点校准

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

1

0.1

1

最小曲率半径(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

仅为平面

最小面积直径(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本临界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

无限制

测头选用参考表

覆盖层基体		有机材料等非磁性覆盖层（如：漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等）		非磁性的有色金属覆盖层（如：铬、锌、铝、铜、锡、银等）
		覆盖层厚度不超过100μm	覆盖层厚度超过100μm	覆盖层厚度不超过100μm	覆盖层厚度超过100μm
如铁、钢等磁性金属	被测面积直径大于30mm	F400型测头0～400μm F1型测头 0～1250μm	F1型测头 0～1250μm F10型测头 0～10μm	F400型测头0～400μm F1型测头 0～1250μm	F1型测头 0～1250μm F10型测头 0～10μm
	被测面积直径小于30mm	F400型测头0～400μm	F400型测头0～400μm F1型测头 0～1250μm	F400型测头0～400μm	F400型测头0～400μm F1型测头 0～1250μm
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属	被测面积直径大于10mm	N1型测头0～1250μm N400测头0～400μm		仅用于铜上镀铬N1型测头0～40μm N400测头0～40μm
	被测面积直径大于10mm	N400测头0～400μm		N400测头0～40μm
塑料、印刷线路非金属基体	被测面积直径大于7mm	--	--	CN02型测头10～200μm

测量特性

物理特性

可选附件

持有证书

备注

产品规格列表

产品订货号	产品介绍	符合标准	最小订量	价格	货期	备注
A1535149	高精度覆层测厚仪：本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。品牌：中国		1	洽询	洽询	备注
A1535150	探头：测量原理：磁性；测量范围（μm）：0～400；测量精度μm：一点校准：±[(1～3)%H+0.7]；二点校准：±（1～3％H+0.7）；低限分辨率：0.1；最小曲率半径(mm)：(凸)1；最小面积直径(mm)：￠3；基本临界厚度(mm)：0.2；品牌：中国		1	4433	洽询	备注
A1535151	探头：测量原理：磁性；测量范围（μm）：0～1250；测量精度μm：一点校准±（3%H+1）；二点校准：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半径(mm)：1.5；最小面积直径(mm)：￠7；基本临界厚度(mm)：0.5；品牌：中国		1	2100	洽询	备注
A1535152	探头：测量原理：磁性；测量范围（μm）：0～1250；测量精度μm：一点校准±（3%H+1）；二点校准：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半径(mm)：平直；最小面积直径(mm)：￠7；基本临界厚度(mm)：0.5；品牌：中国		1	8216	洽询	备注
A1535153	探头：测量原理：磁性；测量范围（μm）：0～10mm；测量精度μm：一点校准±（3%H+10）；二点校准：±[(1~3)%H+10]；低限分辨率：1；最小曲率半径(mm)：10；最小面积直径(mm)：￠40；基本临界厚度(mm)：2；品牌：中国		1	4433	洽询	备注
A1535154	探头：测量原理：涡流；测量范围（μm）：0～400；测量精度μm：一点校准±（3%H+1）；二点校准：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半径(mm)：1.5；最小面积直径(mm)：￠4；基本临界厚度(mm)：0.3；品牌：中国		1	4433	洽询	备注
A1535155	探头：测量原理：涡流；测量范围（μm）：0～12500；测量精度μm：一点校准±（3%H+1.5）；二点校准：±[(1~3)%H+1.5]；低限分辨率：0.1；最小曲率半径(mm)：3；最小面积直径(mm)：￠5；基本临界厚度(mm)：0.3；品牌：中国		1	2100	洽询	备注
A1535156	探头：测量原理：涡流；测量范围（μm）：10～200；测量精度μm：一点校准±（3%H+1）；二点校准：---；低限分辨率：1；最小曲率半径(mm)：仅为平面；最小面积直径(mm)：￠7；基本临界厚度(mm)：无限制；品牌：中国		1	洽询	洽询	备注