厂商名称 | 产品名称 | 产品订货号 | 货期(周) | 产品价格 |
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德国EPK | 涂镀层测厚仪 | A1531591 | 洽询 | 9165 |
测量范围 |
F型 (铁基体) |
0 - 3000 μm |
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N型 (非铁基体) |
0 - 2000 μm |
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FN型 (两用探头) |
0 - 2000 μm |
精确度 |
± (2 % 读值 + 2 μm) | |
最小曲率半径 |
5 mm (凸) |
25 mm (凹) |
最小测量面积 |
Φ 20 mm | |
最小基体厚度 |
0.5 mm (F) |
50 μm (N) |
显示 |
LCD 128×64 液晶 | |
测量单位 |
公制/英制 可选 | |
校准 |
标准校准,一点校准,两点校准 | |
统计分析 |
实时统计;读值个数,最大、最小、平均值,标准方差;最大批组数10个,每组存储量1000个;自由设置块统计数,实现二次统计功能(A1531594\A1531595\A1531596) | |
数据接口 |
USB(A1531594\A1531595\A1531596) | |
电源 |
2 节AA电池 | |
体积 |
主机:64 mm x 115 mm x 25 mm | |
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探头:Φ 15 mm x 62 mm | |
重量 |
270 g | |
环境温度 |
主机: 0 - 50 ℃ | |
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探头:-10℃ - 70℃ |
产品订货号 | 产品介绍 | 符合标准 | 最小订量 | 价格 | 货期 | 备注 |
A1531591 | 涂层测厚仪:测量范围:F型 (铁基体) :0 - 3000 μm;精确度:± (2 % 读值 + 2 μm);最小曲率半径:5 mm (凸) 25 mm (凹);最小测量面积:Φ 20 mm;最小基体厚度:0.5 mm (F) 50 μm (N);显示:LCD 128×64 液晶;测量单位:公制/英制 可选;校准:标准校准,一点校准,两点校准;电源:2 节AA电池;体积:主机:64 mm x 115 mm x 25 mm;探头:Φ 15 mm x 62 mm;重量:270 g;环境温度:主机: 0 - 50 ℃;探头:-10℃ - 70℃,;品牌:德国EPK | 1 | 9165 | 洽询 | 备注 | |
A1531592 | 涂层测厚仪:测量范围:N型 (非铁基体):0 - 2000 μm;其他参数和A1531591一样,;品牌:德国EPK | 1 | 10369 | 洽询 | 备注 | |
A1531593 | 涂层测厚仪:测量范围:FN型 (两用探头): 0 - 2000 μm ;其他参数和A1531591一样,;品牌:德国EPK | 1 | 14280 | 洽询 | 备注 | |
A1531594 | 涂层测厚仪:统计型;统计分析:实时统计;读值个数,最大、最小、平均值,标准方差;最大批组数10个,每组存储量1000个;自由设置块统计数,实现二次统计功能;数据接口:USB;其他参数和A1531591一样,;品牌:德国EPK | 1 | 12936 | 洽询 | 备注 | |
A1531595 | 涂层测厚仪:体统计型;统计分析:实时统计;读值个数,最大、最小、平均值,标准方差;最大批组数10个,每组存储量1000个;自由设置块统计数,实现二次统计功能;数据接口:USB;其他参数和A1531592一样,;品牌:德国EPK | 1 | 14847 | 洽询 | 备注 | |
A1531596 | 涂层测厚仪:体统计型;统计分析:实时统计;读值个数,最大、最小、平均值,标准方差;最大批组数10个,每组存储量1000个;自由设置块统计数,实现二次统计功能;数据接口:USB;其他参数和A1531593一样,;品牌:德国EPK | 1 | 16346 | 洽询 | 备注 | |
A1531597 | RS232 接口电缆:用于个人电脑,;品牌:德国EPK | 1 | 950 | 洽询 | 备注 | |
A1531598 | RS232 接口电缆:用于打印机,;品牌:德国EPK | 1 | 640 | 洽询 | 备注 |