艾测电子科技有限公司
中国区订购热线 021-69978588
| 厂商名称 | 产品名称 | 产品订货号 | 货期（周） | 产品价格 |
|---|---|---|---|---|
| 德国EPK | 涂镀层测厚仪 | A1531188 | 洽询 | 16884 |
产品特点
测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：
• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层
电源：1X9V碱性电池或外接电源
电池寿命：10000次测量
工作环境温度：主机0-50℃，测头-10℃-70℃，暂时工作可达120℃
主机尺寸/重量：150mmx82mmx35mm/270克
*另有耐高温测头
适用标准：
DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO
技术指标
|
技术特征 |
A1531188 |
A1531189 |
A1531530 |
A1531531 |
|
MINITEST存储的数据量 |
||||
|
应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数） |
1 |
1 |
10 |
99 |
|
每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值） |
1 |
10 |
98 | |
|
可用各自的日期时间标识特性的组数 |
1 |
最多500 |
最多500 | |
|
数据总量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
|
MINITEST统计计算功能 |
||||
|
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
● |
|||
|
读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
|
组统计值六种x,x,n,max,min,kvar |
● |
|||
|
组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
|
存储显示每一应用行下的所有组内数据 |
● | |||
|
分组打印以上显示和存储得数据、统计值 |
● |
● | ||
|
显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
● |
● |
● | |
|
MINITEST 校准方法 |
||||
|
透过涂层进行校准（CTC） |
● |
● |
● | |
|
在粗糙表面上作平均零校准 |
● |
● |
● |
● |
|
利用PC机进行基础校准 |
● |
● |
● |
● |
|
补偿一个常数（OFFSET） |
● |
● | ||
|
外设的读值传输存储功能 |
● |
● |
● | |
|
保护并锁订校准值 |
● |
● |
● |
● |
|
更换电池时存储读值 |
● |
● |
● |
● |
|
设置极限值 |
● |
● | ||
|
公英制转换 |
● |
● |
● |
● |
|
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值 |
● |
● | ||
|
连续测量模式中测量稳定后显示读值 |
● |
● |
● |
● |
|
浮点或定点方式数据传送 |
● |
● |
● |
● |
|
无需连接测头即可读数值 |
● |
● |
● | |
|
组内单值延迟显示 |
● |
● |
● | |
|
连续测量模式中显示最小值 |
● |
● |
● |
● |
测量特性
|
测头 |
量程 |
低端分辨率 |
容差 |
最小曲率半径（凸/凹） |
最小测量面积 |
最小基体厚度 |
尺寸（mm） | |
|
A1531540 |
FN1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
|
A1531541 |
FN1.6P |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
只限平直表面 |
φ30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89 |
|
A1531542 |
FN2（也适合铜上铬） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
|
A1531532 |
F05 |
0—500μm |
0.1μm |
±（1%+0.7μm） |
1mm/5mm |
φ3mm |
0.2mm |
φ15x62 |
|
A1531533 |
F1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
|
A1531536 |
F3* |
0—3000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
|
A1531534 |
F1.6/90（管内测头） |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
|
A1531535 |
F2/90（管内测头） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
|
A1531537 |
F10 |
0—10mm |
5μm |
±（1%+10μm） |
5mm/16mm |
φ20mm |
1mm |
φ25x46 |
|
A1531538 |
F20 |
0—20mm |
10μm |
±（1%+10μm） |
10mm/30mm |
φ40mm |
2mm |
φ40x65 |
|
A1531539 |
F50 |
0—50mm |
10μm |
±（3%+50μm） |
50mm/200mm |
φ300mm |
2mm |
φ45x70 |
|
A1531543 |
N02 |
0—200μ |
0.1μm |
±（1%+0.5μmm） |
1mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ16x70 |
|
A1531544 |
N08Cr（适合铜上铬） |
0—80μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
2.5mm |
φ2mm |
100μm |
φ15x62 |
|
A1531545 |
N1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ15x62 |
|
A1531547 |
N2 |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ15x62 |
|
A1531546 |
N1.6/90 （管内 测头） |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
|
A1531548 |
N2/90 （管内测头） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
|
A1531549 |
N10 |
0—10mm |
10μm |
±（1%+25μm） |
25mm/100mm |
φ50mm |
50μm |
φ60x50 |
|
A1531550 |
N20 |
0—20mm |
10μm |
±（1%+50μm） |
25mm/100mm |
φ70mm |
50μm |
φ65x75 |
|
A1531551 |
N100 |
0—100mm |
100μm |
±（1%+0.3mm） |
100mm/平直 |
φ200mm |
50μm |
φ126x155 |
|
A1531552 |
CN02（绝缘基体上的有色金属覆层） |
10—200μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
只限平直表面 |
φ7mm |
无限制 |
φ17x80 |
物理特性
可选附件
持有证书
备注
产品规格列表
| 产品订货号 | 产品介绍 | 符合标准 | 最小订量 | 价格 | 货期 | 备注 |
| A1531188 | 涂层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：1；数据总量：1；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；公英制转换；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；连续测量模式中显示最小值；品牌：德国EPK | 1 | 16884 | 洽询 | 备注 | |
| A1531189 | 涂层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：1；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）1；可用各自的日期时间标识特性的组数1；数据总量：10000；读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar；组统计值六种x,x,n,max,min,kvar；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；公英制转换；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示最小值；品牌： 德国EPK | 1 | 20693 | 洽询 | 备注 | |
| A1531530 | 涂镀层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：10；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）10；可用各自的日期时间标识特性的组数最多500；数据总量：10000；读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；分组打印以上显示和存储得数据、统计值；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；补偿一个常数（OFFSET）；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；设置极限值；公英制转换；连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示最小值；品牌：德国EPK | 1 | 25163 | 洽询 | 备注 | |
| A1531531 | 涂镀层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：99；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）98；可用各自的日期时间标识特性的组数最多500；数据总量：10000；读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；存储显示每一应用行下的所有组内数据；分组打印以上显示和存储得数据、统计值；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；补偿一个常数（OFFSET）；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；设置极限值；公英制转换；连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示最小值；品牌：德国EPK | 1 | 28200 | 洽询 | 备注 | |
| A1531532 | 测头：量程：0—500μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.7μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1mm/5mm；最小测量面积：φ3mm；最小基体厚度：0.2mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 10106 | 洽询 | 备注 | |
| A1531533 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 6648 | 洽询 | 备注 | |
| A1531534 | 管内测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：平直/6mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德国EPK | 1 | 14191 | 洽询 | 备注 | |
| A1531535 | 管内测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：平直/6mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德国EPK | 1 | 14191 | 洽询 | 备注 | |
| A1531536 | 测头：量程：0—3000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 6648 | 洽询 | 备注 | |
| A1531537 | 测头：量程：0—10mm；低端分辨率：5μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半径（凸/凹）：5mm/16mm；最小测量面积：φ20mm；最小基体厚度：1mm；尺寸（mm）：φ25x46；品牌：德国EPK | 1 | 10852 | 洽询 | 备注 | |
| A1531538 | 测头：量程：0—20mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半径（凸/凹）：10mm/30mm；最小测量面积：φ40mm；最小基体厚度：2mm；尺寸（mm）：φ40x65；品牌：德国EPK | 1 | 11349 | 洽询 | 备注 | |
| A1531539 | 测头：量程：0—50mm；低端分辨率：10μm；容差：±（3%+50μm）；最小曲率半径（凸/凹）：50mm/200mm；最小测量面积：φ300mm；最小基体厚度：2mm；尺寸（mm）：φ45x70；品牌：德国EPK | 1 | 32715 | 洽询 | 备注 | |
| A1531540 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 14787 | 洽询 | 备注 | |
| A1531541 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：只限平直表面；最小测量面积：φ30mm；最小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ21x89；品牌：德国EPK | 1 | 31215 | 洽询 | 备注 | |
| A1531542 | 测头：也适合铜上铬；量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 17560 | 洽询 | 备注 | |
| A1531543 | 测头：量程：0—200μ；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.5μmm）；最小曲率半径（凸/凹）：1mm/10mm；最小测量面积：φ2mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ16x70；品牌：德国EPK | 1 | 11478 | 洽询 | 备注 | |
| A1531544 | 测头：适合铜上铬；量程：0—80μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：2.5mm；最小测量面积：φ2mm；最小基体厚度：100μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 11478 | 洽询 | 备注 | |
| A1531545 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ2mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 10494 | 洽询 | 备注 | |
| A1531546 | 管内测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：平直/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德国EPK | 1 | 16577 | 洽询 | 备注 | |
| A1531547 | 测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531548 | 管内测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：平直/10mm；最小测量面积：φ5mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德国EPK | 1 | 16577 | 洽询 | 备注 | |
| A1531549 | 测头：量程：0—10mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+25μm）；最小曲率半径（凸/凹）：25mm/100mm；最小测量面积：φ50mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ60x50；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531550 | 测头：量程：0—20mm 低端分辨率：10μm；容差：±（1%+50μm）；最小曲率半径（凸/凹）：25mm/100mm；最小测量面积：φ70mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ65x75；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531551 | 测头：量程：0—100mm；低端分辨率：100μm；容差：±（1%+0.3mm）；最小曲率半径（凸/凹）：100mm/平直；最小测量面积：φ200mm；最小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ126x155；品牌：德国EPK | 1 | 28400 | 洽询 | 备注 | |
| A1531552 | 测头：绝缘基体上的有色金属覆层：量程：10—200μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半径（凸/凹）：只限平直表面；最小测量面积：φ7mm；最小基体厚度：无限制；尺寸（mm）：φ17x80；品牌：德国EPK | 1 | 16397 | 洽询 | 备注 | |
| A1531553 | 测头：铁基体上未固化粉末涂层：0-1600um，低端分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 20690 | 洽询 | 备注 | |
| A1531554 | 测头：铝箔或铝薄壁管上薄涂层；0-200um,分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 22688 | 洽询 | 备注 | |
| A1531555 | 用于测头N02 Tu的专用支架；品牌：德国EPK | 1 | 33421 | 洽询 | 备注 | |
| A1531556 | RS232 接口电缆 for 2100/4100；品牌：德国EPK | 1 | 930 | 洽询 | 备注 | |
| A1531557 | MSOFT41 数据分析软件 for 4100：配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)；品牌：德国EPK | 1 | 4651.7 | 洽询 | 备注 | |
| A1531558 | 精密探头支架：Probe guide, precision；品牌：德国EPK | 1 | 36385 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532285 | MiniPrint4100专用打印机：适合EPK除700系列所有产品；品牌：德国EPK | 1 | 7891 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532286 | MiniPrint4100-2包可充电电池：（需2包电池，version 2&3）；品牌：德国EPK | 1 | 640 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532287 | 测头：铁及铜铝基体上未固化粉末涂层：0-1600um,分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 19617 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532288 | 测头：铁基体上涂层，250度高温探头，量程0-2mm；品牌：德国EPK | 1 | 11359 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532289 | 测头：铁基体上涂层，350度高温探头，量程0-2mm；品牌：德国EPK | 1 | 32468 | 洽询 | 备注 |
相关产品
 |  | 产品名称 | 产品订货号 | 简要说明 | 送货时间 | 价格 | 搜索关键字 | |||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532166 |
A1532166 A1532167 测头… | 洽询 | 1750 |
磁性涂层测厚仪 进口涂层测厚仪 表面涂层测厚仪 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532171 |
测头类型 A1532171 A1532172 … | 洽询 | 3000 |
磁性涂层测厚仪 进口涂层测厚仪 测厚仪标准片 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532174 |
测头类型 A1532174 A1532175 … | 洽询 | 1166 |
进口涂层测厚仪 测厚仪标准片 表面涂层测厚仪 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532176 |
测头类型 F1或N1 工作原理 … | 洽询 | 6333 |
进口涂层测厚仪 测厚仪标准片 表面涂层测厚仪 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532222 |
A1532222 A1532221 存储 50… | 洽询 | 5833 |
进口涂层测厚仪 测厚仪哪个牌子最好 涂层测厚仪原理 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532224 |
测头类型 F1 工作原理 磁感应 … | 洽询 | 2166 |
进口涂层测厚仪 测厚仪哪个牌子最好 涂层测厚仪原理 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1532225 |
AL1532364 A1532225 测头类型 … | 洽询 | 2166 |
进口涂层测厚仪 测厚仪哪个牌子最好 涂层测厚仪原理 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1530732 |
技术参数 磁性基体 Fe探头（A15307… | 洽询 | 7500 |
涂层测厚仪 涂层测厚仪报价 涂层测厚仪品牌 |
||||||||
 |
涂层测厚仪 | A1530734 |
基 体 Fe、NFe、NFe\NFe 探头形… | 洽询 | 7475 |
涂层测厚仪报价 涂层测厚仪品牌 测厚仪 |
||||||||
 |
金属涂层测厚仪 | A1532016 |
基 体 Fe/NFe 探头形式 无线… | 洽询 | 17075 |
塑料涂层测厚仪 上海涂层测厚仪 |
||||||||